山東東儀光電儀器有限公司研發技術總監及同事共同參加AMPTEK公司 2024年4月7~8日，在上海辦公室培訓室舉辦Amptek用戶交流會。會議的主題：為了讓您更好地使用Amptek產品，充分發揮產品的性能，提高用戶應用水平，了解市場動態及AMPTEK未來產品方向。

2024年4月7日，星期日（13:00-17:00），Amptek首席科學家Robert Redus主要針對以下四方面進行講解：

1、探測器原理及如何通過優化探測器來改善光譜儀器的性能指標。

2、XRF新型應用行業及國內外市場動態。

3、用戶技術問題解答。

4、行業動態介紹。

2024年4月8日，星期一（9：00-12:00），針對性問題解答。

山東東儀光電儀器有限公司技術總監同AMPTEK公司首席科學家Robert Redus、AMPTEK全球銷售總監Mark Samways。就硅漂移探測器（SDD）在能量色散熒光光譜儀（EDXRF）中的應用極限能量分辨率問題進行了共同探討，探討主要內容如下：

1、Q：硅漂移探測器（SDD）的極限能量分辨率是多少？

   A：目前AMPTEK公司最先進的FAST硅漂移探測器（FAST SDD）的理論極限能量分辨率為119eV，實際使用可達到的最低能量分辨率為121eV。

2、Q：做為能量色散熒光光譜儀（EDXRF）的核心器件，硅漂移探測器（SDD）的理論極限能量分辨率是否就是能量色散熒光光譜儀（EDXRF）的極限能量分辨率？

   A：是的，能量色散熒光光譜儀（EDXRF）的理論極限能量分辨率就是它所裝配的硅漂移探測器（SDD）的理論極限能量分辨率為119eV。

3、Q：是否有可能通過算法或其他方法使能量色散熒光光譜儀（EDXRF）的能量分辨率小于硅漂移探測器（SDD）的能量分辨率甚至小于100eV？

   A：完全沒有可能，這個想法是不可能實現的，能量分辨率是硅漂移探測器（SDD）的特性，算法無法突破硅漂移探測器（SDD）自身的極限分辨率。如果想要得到小于119eV的分辨率，硅漂移探測器（SDD）和能量色散熒光光譜儀（EDXRF）都是無法單獨實現的，唯一的方法就是波長色散熒光光譜儀（WDXRF）。

      通過本次AMPTEK公司的用戶交流會，山東東儀光電儀器有限公司在技術方面收貨頗豐，也明確了硅漂移探測器（SDD）及能量色散熒光光譜儀（EDXRF）極限理論分辨率。在此感謝AMPTEK首席科學家Robert Redus 、AMPTEK全球銷售總監Mark Samways科學嚴謹的解答與交流。